后流片工作¶
1. 芯片回片¶
1.1 回片检查¶
- 芯片外观检查
- 引脚连通性测试
- 基本功能测试
- 功耗测量
1.2 测试程序¶
- 测试向量生成
- 测试程序调试
- 测试覆盖率分析
2. 功能验证¶
2.1 芯片测试¶
| 测试项 | 描述 | 状态 |
|---|---|---|
| 复位测试 | 验证复位行为 | 📝 待测试 |
| CPU 测试 | 验证 CPU 功能 | 📝 待测试 |
| 内存测试 | 验证 SRAM | 📝 待测试 |
| 外设测试 | 验证外设功能 | 📝 待测试 |
2.2 性能测试¶
| 测试项 | 目标 | 实际 |
|---|---|---|
| 频率 | 500MHz | 📝 待测量 |
| 功耗 | < 100mW | 📝 待测量 |
| 面积 | 25mm² | 📝 待测量 |
3. 问题追踪¶
| ID | 问题 | 状态 | 负责人 |
|---|---|---|---|
| POST-001 | 待发现 | 打开 | - |
4. 量产准备¶
- 测试程序优化
- 良率分析
- 成本分析
- 量产审批